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全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
- 品牌：凱斯安KSI
- 型號： i-Wafer
- 產(chǎn)地：歐洲 德國
- 供應商報價：面議
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
更新時間：2025-05-08 08:57:43 -
銷售范圍售全國
入駐年限第7年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品德國 KSI超聲波掃描顯微鏡(9件)
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產(chǎn)品特點
- 德國KSI-凱斯安 i-Wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，i-Wafer系列是一款高端儀器，操作人員可選擇接收/拒絕標準，手動或自動檢測晶圓。在KSI i-Wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
詳細介紹
德國KSI-凱斯安i-Wafer型
全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)i-Wafer系列是一款高端儀器，操作人員可選擇接收/拒絕標準，手動或自動檢測晶圓。在KSI i-Wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
新型KSI i-Wafer晶圓缺陷檢測系統(tǒng)的主要特點：
- 掃描速度最高達2000mm/s
- 新型換能器
- 高質(zhì)畫面
- 同時使用1只、2只、4只換能器提高效能
- 能發(fā)現(xiàn)只有幾微米的缺陷
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號