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Atto 低溫強(qiáng)磁場原子力/磁力掃描霍爾顯微鏡
- 品牌:德國Attocube Systems
- 型號(hào): attoAFM/attoMFM/attoSHPM
- 產(chǎn)地:歐洲 德國
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
更新時(shí)間:2025-05-08 08:57:43
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銷售范圍售全國
入駐年限第7年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品顯微鏡(8件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- 低溫強(qiáng)磁場原子力/磁力/掃描霍爾顯微鏡 - attoAFM/attoMFM/attoSHPM系統(tǒng),采用模塊化的設(shè)計(jì)。利用標(biāo)配的控制器和樣品掃描臺(tái),用戶僅需要更換掃描頭和對(duì)應(yīng)的光學(xué)部件即可實(shí)現(xiàn)不同功能之間的切換。
詳細(xì)介紹
低溫強(qiáng)磁場原子力/磁力/掃描霍爾顯微鏡 - attoAFM/attoMFM/attoSHPM 系統(tǒng)
納米尺度下的磁學(xué)圖像對(duì)于研究磁性材料和超導(dǎo)樣品是非常重要的,利用attocube公司attoAFM/attoMFM/atoSHPM系統(tǒng),科學(xué)家可以在無以倫比的空間分辨率(20nm)和磁場敏感性下分析樣品磁性,工作溫度從極低溫、強(qiáng)磁場到室溫。
attoAFM/attoMFM/attoSHPM采用模塊化的設(shè)計(jì)。利用標(biāo)配的控制器和樣品掃描臺(tái),用戶僅需要更換掃描頭和對(duì)應(yīng)的光學(xué)部件即可實(shí)現(xiàn)不同功能之間的切換。
低溫強(qiáng)磁場磁力顯微鏡 - attoMFM I 系統(tǒng)
attoMFM I采用緊湊設(shè)計(jì),其主要用于低溫和極低溫環(huán)境中。在掃描時(shí),探針是固定的,而進(jìn)行樣品掃描。樣品與探針之間的磁力梯度由光纖干涉的模式,通過測量共振頻率或相位變化而確定。
在實(shí)驗(yàn)過程中,樣品和探針保持一定的距離,典型值為10-100nm。工作在共振頻率模式時(shí),PLL用于激發(fā)微懸臂,進(jìn)行閉環(huán)掃描,實(shí)現(xiàn)極高的空間分辨率(10.7nm,如下圖)。
attoMFM I特點(diǎn)與技術(shù)優(yōu)勢
+ 工作模式:MFM、接觸式/半接觸式/非接觸模式AFM、導(dǎo)電AFM、EFM
+ 可升級(jí)到SHPM、共聚焦顯微鏡、SNOM和STM
+ 5X5X5mm粗定位范圍,4K
+ 30umX30um掃描范圍,4K
+ MFM極高空間分辨率:好于11nm
+ 變溫范圍:mK - 373K
+ 兼容強(qiáng)磁場:可達(dá)15Tesla
+ 兼容1"和2"孔徑的磁體與恒溫器,如Quantum Design-PPMS系統(tǒng)
+ 極其緊湊和可靠MFM掃描頭設(shè)計(jì)
+ 閉環(huán)式掃描模式
+ 外置CCD,用于檢測低溫環(huán)境中樣品的位置
+ 用于超導(dǎo)體的vortex分布與定扎測量
+ 磁性顆粒的局域場測量
+ 磁化率和磁滯回線測量
+ 超導(dǎo)、磁疇、材料科學(xué)研究
attoMFM I技術(shù)參數(shù)
+ 樣品定位范圍:5 X 5 X 5mm,4K
+ 樣品位移步長:0.05 -3um @ 300K, 10 -500nm @ 4K
+ 掃描范圍:40X40 um @300K;30X30 um @4K
+ 磁場強(qiáng)度: 0 -15Tesla (取決于磁體)
+ 變溫范圍:mK - 300K (取決于恒溫器)
+ 工作真空環(huán)境:1X10-6mbar - 1bar(He交換氣氛)
+ MFM側(cè)向分辨率:好于20nm
+ RMS z-noise水平(4K):0.05nm
+ z bit分辨率(全范圍內(nèi)):7.6pm
+ z bit分辨率(掃描范圍內(nèi)):0.12pm
低溫強(qiáng)磁場掃描霍爾顯微鏡- attoSHPM系統(tǒng)
attoSHPM采用緊湊設(shè)計(jì),其主要用于低溫和極低溫環(huán)境中。其探針是采用MBE生長的GaAs/AlGaAs霍爾傳感器。局域測量通過霍爾探針在樣品表面進(jìn)行掃描而實(shí)現(xiàn),將測得的霍爾電壓進(jìn)行轉(zhuǎn)換,即可計(jì)算出局域磁場強(qiáng)度。
attoSHPM特點(diǎn)與技術(shù)優(yōu)勢
+ 可升級(jí)到MFM、接觸式/半接觸式/非接觸模式AFM、導(dǎo)電AFM、EFM、共聚焦顯微鏡、SNOM和STM
+ 5X5X5mm粗定位范圍,4K
+ 30umX30um掃描范圍,4K
+ 變溫范圍:mK - 373K
+ 兼容強(qiáng)磁場:可達(dá)15Tesla
+ 兼容1"和2"孔徑的磁體與恒溫器,如Quantum Design-PPMS系統(tǒng)
+ 極其緊湊和可靠SHPM掃描頭設(shè)計(jì)
+ 定量和非破壞性磁性測量,mK溫度
+ 閉環(huán)式掃描模式
+ 用于超導(dǎo)體的vortex分布與定扎測量
+ 磁性顆粒的局域場測量
+ 磁化率和磁滯回線測量
+ 超導(dǎo)、磁疇、材料科學(xué)研究
attoSHPM技術(shù)參數(shù)
+ 利用STM原理/音叉模式探測樣品與探針之間的距離
+ 樣品定位范圍:5 X 5 X 5mm,4K+ 樣品位移步長:0.05 -3um @ 300K, 10 -500nm @ 4K
+ 掃描范圍:40X40 um @300K;30X30 um @4K
+ 磁場強(qiáng)度: 0 -15Tesla (取決于磁體)
+ 變溫范圍:mK - 300K (取決于恒溫器)
+ 工作真空環(huán)境:1X10-6mbar - 1bar(He交換氣氛)
+SHPM探針:MBE生長的GaAs/AlGaAs異質(zhì)結(jié)
+ 分辨率:250nm超高分辨
+ z bit分辨率,300K :0.065nm,4.3um掃描范圍
+ 側(cè)向(xy)bit分辨率,4K:0.18nm,12um掃描范圍
+ z bit分辨率,4K:0.030nm,2um掃描范圍
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