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掃描電鏡專用原位AFM探測系統(tǒng)

品牌：奧地利GETec
型號： AFSEM
產(chǎn)地：歐洲奧地利
供應商報價：面議

QUANTUM量子科學儀器貿(mào)易（北京）有限公司更新時間：2025-04-28 10:19:37

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品表面成像(40件)

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產(chǎn)品特點

* 掃描電子顯微鏡中進行AFM原位分析

* 使用SCL的自感懸臂技術的納米探針

* 無需激光和探測器，適用于任何樣品表面

* 與大多數(shù)SEM兼容而不妨礙正常的操作

* AFM和SEM協(xié)同并行分析

詳細介紹

?AFSEM? —使AFM和SEM合二為一

奧地利GETec公司發(fā)布的AFSEM是一款緊湊型，適用于真空環(huán)境的AFM產(chǎn)品，能夠輕松地結合兩種大的分析技術—AFM和SEM為一體，擴展SEM樣品成像和分析能力。AFSEM技術與SEM技術的結合，使得人們對微觀和納米新探索新發(fā)現(xiàn)成為可能。

SEM結合AFMwan美解決方案：

* 掃描電子顯微鏡中進行AFM原位分析

* 使用SCL的自感懸臂技術的納米探針

* 無需激光和探測器，適用于任何樣品表面

* 與大多數(shù)SEM兼容而不妨礙正常的操作

* AFM和SEM協(xié)同并行分析

掃描電子顯微鏡中進行原位AFM分析

AFSEM技術實現(xiàn)了AFM和SEM的功能性互補，讓SEM可以同時實現(xiàn)樣品的高分辨率成像，真實的三維形貌，高度，距離測量，甚至是材料的導電性能。做到這一點只需要將AFSEM懸臂探針的位置移動到SEM下需要觀察的樣品位置進行探測。優(yōu)化的AFSEM工作流程(幾乎沒有減少SEM的掃描時間)確保了效率。提供的強大控制軟件則允許進行優(yōu)化和直觀的測量、系統(tǒng)處理和數(shù)據(jù)分析。

將AFSEM集成到一個Zeiss Leo 982掃描電子顯微鏡中(左)，對樣品表面進行掃描成像(右)，對樣品表面進行掃描。當在AFM和SEM成像之間交替時，不需要轉(zhuǎn)移樣品或打破真空。使用AFSEM，一切都可以進行內(nèi)聯(lián)！

SEM-AFM 協(xié)同分析

對于產(chǎn)品或材料分析，通常需要用多種技術分析一個樣品或者同一個器件，并尋找參數(shù)之間的相關性。如果樣品需要使用SEM和AFM這兩種的成像技術，就意味著我們需要找到感興趣的區(qū)域并定位它，再拿到另一個設備中尋找這個感興趣的區(qū)域，才能實現(xiàn)對同樣的區(qū)域進行分析。有什么能比直接把AFM放在SEM里面來的簡單呢？


對無支撐石墨烯和石墨烯相關材料進行掃描電鏡和AFM原位分析。在低電壓掃描電子顯微鏡下，我們可以對一個懸空的石墨烯薄片的樣品進行成像，以確定層數(shù)和厚度(a)。然后，利用AFM(b+c)實現(xiàn)更高的分辨率和更好的對比度。

掃描電鏡圖像(A)、放大的圖像(B)和相關的AFM成像(C)，測量結果來自FEI Quanta 600 FEG ESEM。

AFSEM可與大多數(shù)SEM兼容

AFSEM適用于大多數(shù)SEM或雙光束(SEM/FIB)系統(tǒng)?？梢灾苯影惭b在系統(tǒng)腔室的倉門上，同時樣品臺保持不變。此外，AFSEM采用一種自感應懸臂探針，無需激光與傳感器。 AFSEM在電鏡中，夾持探針的懸臂梁只需要極靴與樣品之間4.5毫米的空間。因此，AFSEM可以與各種標準的SEM兼容，GETec公司能夠處理任何兼容SEM系統(tǒng)真空腔內(nèi)的安裝。也正是這種優(yōu)雅小巧的設計使得掃描電子顯微鏡能夠配合AFM技術實現(xiàn)的亞納米級的形貌探測。