-
-
-
FB2200聚焦離子束系統(tǒng)
- 品牌：日本日立
- 型號(hào)： FB2200
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議
-
柯岷國際貿(mào)易(上海)有限公司
-
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照
- 同類產(chǎn)品
立即掃碼咨詢
聯(lián)系方式：400-822-6768
聯(lián)系我們時(shí)請說明在儀器網(wǎng)（m.yn180.com）上看到的!
掃 碼 分 享
詳細(xì)介紹
- 新一代系統(tǒng)，效率更高、精度更高、質(zhì)量更高。
具有大面積離子銑能力，提供高速透射電子顯微鏡樣品制備。
60納安離子束電流，提高了做樣效率。
低加速原位電壓，樣品制備損壞率低。
采用日立ZL超薄樣品制備技術(shù)（*），可制作出極微小精度的薄膜樣品。
與日立其它掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡、掃描透射電子顯微鏡使用共用樣品桿（*），可快速簡單轉(zhuǎn)移樣品，便于進(jìn)一步成像和分析。
選購件
超薄樣品制備附件
該附件用于制備STEM、TEM等觀察用的超薄樣品，它是在FIB真空樣品倉內(nèi)通過離子束定點(diǎn)切割晶圓的目標(biāo)位置，并用操縱器將超薄樣品提出來的一種系統(tǒng)。使用該附件可以大大提高樣品制備的位置精度，同時(shí)樣品制備時(shí)間也縮短到半小時(shí)以內(nèi)。（該技術(shù)已經(jīng)在日本和美國申請了ZL）。
三維分析樣品桿
使用該旋轉(zhuǎn)樣品桿可在STEM和FIB上觀察用FIB系統(tǒng)加工出來的微小柱狀樣品。，該三維旋轉(zhuǎn)樣品桿可有效適用于小型化電子設(shè)備三維結(jié)構(gòu)評估以及立體故障分析。
您可能感興趣的產(chǎn)品
-
FB2200聚焦離子束系統(tǒng)
-
Hitachi聚焦離子束系統(tǒng) MI4050
-
Hitachi聚焦離子束系統(tǒng) MI4050
-
JIB-4000Plus聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
-
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) JIB-4000
-
ZEISS聚焦離子束掃描電鏡Crossbeam 350
-
賽默飛世爾 雙束聚焦離子束掃描電鏡 Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡
-
二手 蔡司 Crossbeam XB540 聚焦離子束掃描電鏡
-
二手 FEI Quanta 600F 聚焦離子束掃描電鏡FIB
-
二手 日本電子 JEM-9320FIB 聚焦離子束加工裝置
-
日立 Ethos NX5000 聚焦離子束顯微鏡 FIB SEM
-
離子束濺射沉積系統(tǒng)
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號(hào)