采用 PVM（顆粒錄影和測(cè)量）技術(shù)的 ParticleView V19 是一種基于探頭的錄影顯微鏡，可以將顆粒和顆粒機(jī)制在過(guò)程中的狀況以直觀的形式呈現(xiàn)出來(lái)。 在各種工藝條件下連續(xù)捕捉高分辨率圖像，無(wú)需采樣或離線分析。 對(duì)顆粒粒徑和濃度變化敏感的過(guò)程趨勢(shì)，將自動(dòng)與相關(guān)度最高的圖像相結(jié)合，為科學(xué)家提供了一種可確保通過(guò)每項(xiàng)實(shí)驗(yàn)來(lái)獲取全面了解的直觀、可靠的方法。

• 研究顆粒粒徑和形狀 - 顆粒的高分辨率實(shí)時(shí)成像可使科學(xué)家確定過(guò)程參數(shù)對(duì)顆粒粒徑和形狀的影響。 當(dāng)關(guān)鍵參數(shù)在開(kāi)發(fā)、擴(kuò)大和生產(chǎn)期間發(fā)生改變時(shí)，顆粒通過(guò)設(shè)計(jì)可具有可預(yù)測(cè)性。

• 表征瞬時(shí)事件和難以捉摸的機(jī)制 - 顆粒和顆粒結(jié)構(gòu)在進(jìn)行取樣時(shí)經(jīng)常發(fā)生變化。 通過(guò)在線觀察晶體、液滴及其他細(xì)微顆粒結(jié)構(gòu)，科學(xué)家可以表征可能對(duì)于優(yōu)化產(chǎn)品質(zhì)量或過(guò)程至關(guān)重要的瞬時(shí)事件和難以捉摸的機(jī)制。

• 研究關(guān)鍵過(guò)程事件和擾動(dòng) - 對(duì)顆粒粒徑、形狀和濃度變化敏感的基于圖像的趨勢(shì)，有助于科學(xué)家確定并研究重要過(guò)程事件和擾動(dòng)。 這種快速可靠的方法可減少全面了解復(fù)雜顆粒系統(tǒng)和過(guò)程所需的時(shí)間和精力。

• 以較低成本做出基于證據(jù)的決策 - 通過(guò)在線觀察顆粒和顆粒機(jī)制，科學(xué)家可獲得通過(guò)其他方法很困難或很耗時(shí)而無(wú)法獲得的知識(shí)。 通過(guò)這些知識(shí)能夠以較低的成本做出基于證據(jù)的決策以及過(guò)程開(kāi)發(fā)。

• 了解結(jié)晶過(guò)程

• 確定生長(zhǎng)、結(jié)塊、破損及形狀變化等機(jī)制

• 控制顆粒粒徑和形狀

• 監(jiān)控多晶型轉(zhuǎn)變

• 確定批量生產(chǎn)之間不一致性的來(lái)源

• 優(yōu)化油/水分離

• 查看無(wú)法進(jìn)行取樣的顆粒和液滴系統(tǒng)

技術(shù)參數(shù)

功能特點(diǎn)

了解顆粒變化過(guò)程

揭示隱性機(jī)理

ParticleView實(shí)時(shí)顯微鏡是易于使用的PAT工具，它可以記錄工藝過(guò)程中自然存在的顆粒及其顆粒結(jié)構(gòu)的高分辨率圖像。 通過(guò)該工具，可對(duì)每個(gè)圖像進(jìn)行實(shí)時(shí)分析，并在實(shí)時(shí)過(guò)程條件下呈現(xiàn)有關(guān)顆粒粒徑、數(shù)量與形狀的簡(jiǎn)單趨勢(shì)。

借助ParticleView，科研人員可觀察顆粒的形成、生長(zhǎng)、破碎和形變過(guò)程，并深入了解控制其過(guò)程的隱性機(jī)理。

無(wú)需取樣即可了解

實(shí)時(shí)顯微鏡

采用PVM技術(shù)的ParticleView是基于探頭設(shè)計(jì)的，這意味著科研人員可在實(shí)時(shí)過(guò)程條件下獲得可靠的結(jié)果，而無(wú)需去現(xiàn)場(chǎng)獲取數(shù)據(jù)。 從每個(gè)過(guò)程的開(kāi)始到結(jié)束，均連續(xù)記錄圖像，從而能夠揭示隱性顆粒機(jī)理以及反映它們的過(guò)程參數(shù)。