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7-SCRD8 太陽(yáng)電池反射率測(cè)試
- 品牌:賽凡
- 型號(hào): 7-SCRD8 太陽(yáng)電池反射率測(cè)試
- 產(chǎn)地:北京
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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北京賽凡光電儀器有限公司
更新時(shí)間:2024-06-04 16:00:14
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銷售范圍售全國(guó)
入駐年限第10年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照
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詳細(xì)介紹
- 為提高太陽(yáng)電池的光電轉(zhuǎn)換效率,在制程上需要減少太陽(yáng)光入射電池后被表面反射所造成的損失,本測(cè)試儀針對(duì)這一制程上的需求及太陽(yáng)電池絨面特性,采用D8積分式光學(xué)結(jié)構(gòu),測(cè)量材料表面的反射率,對(duì)太陽(yáng)電池制程中的工藝改進(jìn),提供有效的分析手段。
產(chǎn)品特點(diǎn):
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大功率的穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬光源
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配置應(yīng)用在科研級(jí)的分光及探測(cè)系統(tǒng)
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對(duì)比測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)溯源至NIST
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簡(jiǎn)潔美觀的ZL設(shè)計(jì)
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去除影響測(cè)試結(jié)果的多余結(jié)構(gòu),減少系統(tǒng)誤差
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優(yōu)化傳統(tǒng)的測(cè)試結(jié)構(gòu),提高測(cè)量的不確定度及重復(fù)性
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粗大誤差自動(dòng)去除,線性誤差、周期誤差等的自動(dòng)校正
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可擴(kuò)展增加溫控、真空吸附等輔助結(jié)構(gòu)
技術(shù)參數(shù):
波長(zhǎng)范圍
350-1050nm(可擴(kuò)展)
測(cè)試樣品尺寸
≤156x156mm(可擴(kuò)展)
測(cè)試模式
Mapping 系統(tǒng)重復(fù)性
1%
反射率范圍
0-100%
單點(diǎn)測(cè)試時(shí)間
<3s
校正時(shí)間
<15s
雜散光
1x10-3
取樣孔徑
Φ10mm
校準(zhǔn)板
標(biāo)準(zhǔn)白板(溯源NIM)
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技術(shù)資料
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