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S-MRS系列漫反射率測試系統(tǒng)
- 品牌：上海波銘
- 型號： S-MRS
- 產(chǎn)地：上海 浦東新區(qū)
- 供應商報價：面議
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上海波銘科學儀器有限公司
更新時間：2025-03-06 12:24:27 -
銷售范圍售全國
入駐年限第5年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品漫反射率測試系統(tǒng) (1件)
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產(chǎn)品特點
- ? 光譜測量范圍：350-2500nm ;光譜分辨率：2nm以下；光譜掃描步距：0.2-100nm可連續(xù)設置
? 波長準確度：優(yōu)于±0.2nm（紫外-可見區(qū)），優(yōu)于±0.5nm；（近紅外區(qū)）
? 光度測量準確度：1%以內(nèi)（紫外-可見區(qū)），2%以內(nèi)；（近紅外區(qū)）
? 光度測量重復性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm 詳細介紹
? 光譜測量范圍：350-2500nm ;光譜分辨率：2nm以下；光譜掃描步距：0.2-100nm可連續(xù)設置
? 波長準確度：優(yōu)于±0.2nm（紫外-可見區(qū)），優(yōu)于±0.5nm；（近紅外區(qū)）
? 光度測量準確度：1%以內(nèi)（紫外-可見區(qū)），2%以內(nèi)；（近紅外區(qū)）
? 光度測量重復性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm
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