德國 PVA 超聲波掃描顯微鏡

型號：   SAM 302 HD2（適合5-6mm 以內(nèi)翹曲樣品，如12寸FOWLP ，一次性掃描完成）

SAM 302 HD2 主要技術參數(shù)：

1. 可根據(jù)樣品的翹曲情況（5-6mm以內(nèi)），在掃描過程中實時調(diào)整焦距:即 Z 軸一邊快速掃描，一邊實時自動改變 Z 軸探頭的上下對焦位置，使得探頭對于檢測位置始終處于聚焦狀態(tài)，從而保證整個樣品的掃描圖像完整性；不會出現(xiàn)因樣品翹曲無法掃描到或者圖像灰度值不一樣的情況；

2.  X / Y 軸均為超高性能線性馬達，雙馬達，且內(nèi)置磁力機構，配合光柵尺精確定位

3. 前后雙探頭架構，可前后同時 C 掃描，2 倍于單探頭掃描效率；

4. 一前一后每個探頭最大 C 掃描范圍≥ 320 x 320 mm

5. 掃描速度：最大2,000 mm/s - 可手動或自動調(diào)整速度，平均可用1500mm/s;

6. XY 軸機械重復精度 ±0.05um

7. ADC卡采樣頻率 5G/秒，帶散熱風扇；

8. 自動聚焦：不僅具有表面自動對焦功能，同時還可對樣品內(nèi)部任意界面自動對焦；在用戶需要重復檢測同一種類樣品時，即使樣品擺放有一定的高度誤差，設備可以自動對焦到所設定的界面，操作人員不需要每次掃描前將對焦位置重新校準，只需要直接掃描即可。

9. 主要掃描模式：A-Scan（點掃描）、B-Scan（縱向掃描）、C-Scan（橫向掃描）、X-Scan （多層斷層C掃描）、多重門限掃描、T-Scan (透射掃描)-選項、High Quality-高清晰掃描、表面跟蹤掃描、Z-Scan實體掃描模式（虛擬再生掃描功能）、多重區(qū)域掃描下包括 托盤矩陣掃描、 Z變換掃描（探測掃描）、順序掃描（序列掃描）、預掃描、自動掃描、分頻掃描、覆蓋掃描、插值掃描模式等

10. 圖像分辨率最小: 最大 32,000 x 32,000 像素, 精度最小0.5um像素;

    在輸入掃描面積和每個像素的分辨尺寸后，軟件自動計算圖像分辨率;

11. 定量測量功能：

    X -Y 長度計算；厚度與距離測量；膠厚測量；可根據(jù)樣品的實際輪廓（ 圓形，矩形，不規(guī)則形）對檢測界面、焊接界面質(zhì)量進行缺陷面積百分比統(tǒng)計分析，樣品掃描后可采用鼠標選擇掃描范圍后提供缺陷尺寸列表并輸出報告（可顯示所有孔洞尺寸、面積等信息，分析區(qū)域的孔洞率、最大孔洞尺寸、面積等），點擊列表中任一行可顯示該缺陷在掃描圖像上的 X/Y 區(qū)域，便于進一步分析和定位缺陷；可進行表面平整度測試，顯示樣品表面3D形貌圖并計算高度差異等；

12. 配置高分辨率 DTS 動態(tài)透射裝置：透射接收探頭 40MHz f=16mm 或 40MHz f=12.7mm可選；使用者可以像 C-掃描反射探頭一樣對該透射接收探頭進行軟件調(diào)焦，透射圖像甚至可以和C-掃描的分辨率相媲美；DTS 高分辨率動態(tài)透射掃描裝置

    
    

13. 除軟件濾波功能外，同時配置外置濾波器，可有效消除雜波，提供更小信噪比的半波，提高有用的信號波形增益，同時又使得波形變成比較窄（帶寬比較?。┖透蓛?，從而提高掃描圖像的分辨率，使得掃描的圖像更清晰，軟件開關控制；

14. 軟件操作界面可根據(jù)用戶使用習慣或?qū)I(yè)術語，自行命名（中英文切換）；