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在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測量儀-MPROBE 70
- 品牌:美國Semiconsoft
- 型號(hào): MPROBE 70
- 產(chǎn)地:美洲 美國
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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上海昊量光電設(shè)備有限公司
更新時(shí)間:2025-05-19 15:18:38
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品膜厚測量儀(11件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- 產(chǎn)線生產(chǎn)光學(xué)無接觸薄膜厚度連續(xù)測量
詳細(xì)介紹
在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測量儀-MPROBE 70
在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測量儀-MPROBE 70是一種高性能厚度測量系統(tǒng)。在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測量儀-MPROBE 70基于光譜反射率和/或透射率測量,專為產(chǎn)線的連續(xù)測量而設(shè)計(jì)。一些示例包括卷對(duì)卷生產(chǎn)中的卷材測量(薄膜和涂層的厚度)、建筑玻璃生產(chǎn)(反射率、透射率和顏色坐標(biāo))、軋制金屬板(油或涂層厚度)等等。我們的厚度測量系統(tǒng)有效地測量薄膜和厚片,具有多層分辨力;透明、彩色和有色薄膜;有機(jī)或水性涂料和粘合劑。在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測量儀-MPROBE 70與其他聚合物(如 PR、PP 和離聚物)同時(shí)測量阻隔膜(如尼龍、EVOH 或 PVD)的厚度。聚合物、玻璃、金屬、塑料、半導(dǎo)體和其他無孔材料上的涂層厚度。
在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測量儀-MPROBE 70的優(yōu)勢:
1.配置靈活:與PC或PLC集成
2.TCP-IP (1Gb) 快速可靠的通信
3.針對(duì)應(yīng)用需求定制的系統(tǒng)配置
4.不同型號(hào)取決于波長、厚度范圍和測量速度
5.固件嵌入式數(shù)據(jù)分析選件(內(nèi)置 TFC)可實(shí)現(xiàn)超快速測量
6.在指定波長范圍內(nèi)測量反射和/或透射光譜
?7.可選參數(shù)測量