LS225+N1500渦流測厚儀是一款便攜式分體式的渦流測厚儀，由主機LS225和非鐵基探頭N1500組成。儀器采用渦流感應原理，具有超高的測量精度和重復性，配上探針式的測頭設計，特別適用于測量超薄涂層及氧化膜的各種小尺寸工件、異型材料。LS225+N1500渦流測厚儀可用于生產檢驗、施工驗收以及銷售展覽現(xiàn)場對非磁性金屬基材上的非導電涂層厚度進行快速無損的測量，可應用于航空工業(yè)、建材、機械、化工、輕工和儀表等行業(yè)。

　　LS225+N1500渦流測厚儀產品參數如下：

　　測量原理         渦流感應

　　基體材料         非鐵磁性金屬

　　測量范圍         0.0-1500μm

　　分辨率     0.1μm:（0μm - 99.9μm）

　　1μm:（100μm - 999μm）

　　0.01mm:（1.00mm – 1.50mm）

　　重復性     ≤±（0.8%讀數+0.1μm）手壓測試機架測試

　　測量精度         ±（2%讀數+0.3μm）五點校準

　　單位         μm/mil

　　測量間隔         0.8s

　　最小測量區(qū)域         ?=7mm

　　最小曲率半徑         凸面1.5mm，凹面10mm

　　最小基體厚度         0.05mm

　　用戶校準         支持零點校準，1點到5點校準

　　探頭尺寸         長110mm×直徑15mm（不包括連線）

　　探頭重量（含電池）     81g

　　LS225+N1500渦流測厚儀產品特點：

　　1.支持調零和多點校準確保數據更加，配備專門的調零板和標準片。

　　2.具備數據統(tǒng)計功能，自動統(tǒng)計最近9組數據的值，值，平均值和方差值。

　　3.具有超寬量程0-1500μm，測量單位μm和mil可切換。

　　4.選購專用的手壓測試機架能消除人為因素造成的誤差，數據重復性可達0.1μm。