InTouchScope? 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT700HR 發(fā)布
—日常使用的SEM、好用—
日本電子株式會社(代表取締役社長兼COO 大井 泉)宣布:高通量新型掃描電子顯微鏡JSM-IT700HR于2020年8月開始全球銷售。
【開發(fā)背景】
掃描電子顯微鏡廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、醫(yī)學(xué)和生物學(xué)等領(lǐng)域,從基礎(chǔ)研究到工廠的品質(zhì)管理等用途也在不斷地?cái)U(kuò)展。不僅以研究為目的,快速高清晰圖像的數(shù)據(jù)采集和更簡便的元素分析的需求很高。 隨著技術(shù)的不斷創(chuàng)新,觀察的樣品也越來越小,微小樣品的測定已經(jīng)常態(tài)化。 基于此,浸沒式熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡InTouchScope?系列 JSM-IT700HR誕生了。
該設(shè)備最高分辨率1nm、最大探針電流300nA(是之前的15倍),可提供豐富的觀測和分析信息。 用戶界面操作簡單,設(shè)計(jì)緊湊,配備大樣品室和更好的防震臺,實(shí)現(xiàn)了從【能見】-【易見】的轉(zhuǎn)變。 在操作導(dǎo)航GUI里增加了【信號深度顯示】功能,實(shí)時(shí)了解在測樣品的分析深度(參考),有效用于元素分析中。
該機(jī)種有低真空觀察型JSM-IT700HR/LV和低真空觀察分析型 JSM-IT700HR/LA兩種型號。
【主要特點(diǎn)】
1. 浸沒式熱場發(fā)射電子槍,可實(shí)現(xiàn)高清晰圖像觀察和高空間分辨率分析
2. Zeromag功能,可實(shí)現(xiàn)快速的視野搜索
3. Live Analysis功能,實(shí)現(xiàn)高效元素分析
4. 信號深度顯示功能,可實(shí)時(shí)了解樣品的分析深度
5. SMILE VIEWTM Lab,易于生成從觀察到分析的所有數(shù)據(jù)報(bào)告
6. 樣品更換導(dǎo)航使樣品更換更安全簡便
7. 電子束自動(dòng)對中可使電子光學(xué)條件維持最 佳狀態(tài)
8. 大開門樣品室可對應(yīng)各種形狀和大小的樣品觀察和分析
日常使用的SEM,好用!
隨著技術(shù)的不斷創(chuàng)新,觀察的樣品也越來越小,微小樣品的測定已經(jīng)常態(tài)化。 基于此,浸沒式熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡InTouchScope?系列 JSM-IT700HR誕生了。
該設(shè)備最高分辨率1nm、最大探針電流300nA(之前的15倍),可提供豐富的觀測和分析信息,用戶界面操作簡單、設(shè)計(jì)緊湊、配備大樣品室。
■ Zeromag & Autofunctions
放大光學(xué)圖像,無縫過渡到SEM圖像

Zeromag具有將樣品臺圖像、光學(xué)像和SEM像聯(lián)動(dòng)的功能,樣品臺上有多個(gè)樣品和觀察特定區(qū)域時(shí),很容易搜尋視野。
※若顯示光學(xué)像,需要選件樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)SNS
■ Integrated EDS & Live Analysis
一體化EDS和實(shí)時(shí)分析

SEM操作界面上有EDS分析操作,觀察分析無障礙。Live Analysis具有實(shí)時(shí)顯示特征X線譜圖功能。
■ SMILE VIEW? Lab
快速生成數(shù)據(jù)報(bào)告

JEOL獨(dú)有的數(shù)據(jù)管理工具。 光學(xué)像、SEM像、EDS分析結(jié)果一并保存。報(bào)告書一鍵生成。
也可以離線解析※1。
※1 需要離線分析軟件 ※2 需要安裝Microsoft?Office
■ 信號深度顯示

在操作導(dǎo)航GUI里增加了【信號深度顯示】功能,實(shí)時(shí)了解在測樣品的分析深度(參考),有效用于元素分析中。
■ 自動(dòng)電子束對中 (ABA)

電子束的軸偏離時(shí),自動(dòng)調(diào)整對中功能
■ 用蒙太奇功能進(jìn)行廣域觀察與分析


蒙太奇結(jié)果 6x6(左:背散射電子像、右:Cu元素map像 )
樣品:黃銅螺釘?shù)钠矫婵涛g橫截面*、 加速電壓:20 kV、低真空模式 (20 Pa)、取像:6.4 mm × 4.8 mm
*機(jī)械研磨后、用IB-19530CP進(jìn)行平面刻蝕加工
蒙太奇就是一種拼接功能,能夠?qū)V域內(nèi)采集到的所有圖像拼接成一個(gè)高清圖像。
此功能對于獲取大面積詳細(xì)信息非常有用。
