可快速簡(jiǎn)單地進(jìn)行過(guò)濾顆粒計(jì)數(shù)

徠卡LAS X ID Modules分析軟件清潔度專家

管理多個(gè)樣品

同時(shí)分析多個(gè)樣品，提高工作流程效率，借助自動(dòng)化顆粒分析簡(jiǎn)化您的過(guò)程。例如，將來(lái)自一個(gè)過(guò)濾過(guò)程的多個(gè)過(guò)濾樣品組合到一個(gè)單一批次進(jìn)行分析，并為每個(gè)過(guò)濾器分配不同的顆粒分類設(shè)置。輕松生成報(bào)告，共享您的結(jié)果。

現(xiàn)在，您可以

在每個(gè)批次中一次分析多個(gè)過(guò)濾器，節(jié)省時(shí)間

設(shè)置不同的顆粒分類參數(shù)，例如每種過(guò)濾器的長(zhǎng)度和寬度限值

以圓形或矩形掃描圖形進(jìn)行測(cè)量

使用顯微鏡進(jìn)行除技術(shù)清潔度分析以外的其他任務(wù)

符合甚至超越標(biāo)準(zhǔn)

檢查是產(chǎn)品安全的重要步驟，對(duì)于產(chǎn)品的可靠性和標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性非常關(guān)鍵。為了獲得必要的證明書，記錄零部件的清潔度至關(guān)重要。

清潔度專家 軟件有助于

按照各種國(guó)際和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)對(duì)您的技術(shù)清潔度進(jìn)行分類 

兼顧個(gè)性化要求

通過(guò)存儲(chǔ)和調(diào)用功能獲得可靠、可重復(fù)的結(jié)果

通過(guò)測(cè)量顆粒高度，而不僅僅是長(zhǎng)度和寬度，全面測(cè)定顆粒造成損害的可能性

根據(jù)外部或內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)快速生成報(bào)告

識(shí)別污染源 

何必費(fèi)心搜尋 – 分析全搞定！ 

假如您可以將目視檢查和化學(xué)檢查組合在一個(gè)工作流程解決方案中，將會(huì)為污染源識(shí)別帶來(lái)莫大的幫助。清潔度專家 軟件與獨(dú)特的全新激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS) 系統(tǒng)相結(jié)合，為您帶來(lái)靈活的二合一分析解決方案。輕松快速地掌握污染的更多信息，為您的業(yè)務(wù)帶來(lái)決策優(yōu)勢(shì)。

<div/>

LIBS 的靈活性

無(wú)需將顆粒傳輸?shù)诫娮语@微鏡 (SEM) 或其他設(shè)備，即可獲得顆粒的化學(xué)指紋圖譜

消除額外的樣品制備和系統(tǒng)調(diào)節(jié)

在內(nèi)部進(jìn)行化學(xué)分析，節(jié)省時(shí)間和資金 

根據(jù)光學(xué)信息和化學(xué)信息作出明智決策 

軟件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單直觀，任何用戶均可使用

清潔度專家 軟件的設(shè)計(jì)以用戶為出發(fā)點(diǎn)。用戶界面可根據(jù)特定需求進(jìn)行配置，使得不同熟練程度的操作者可以輕松瀏覽。軟件通過(guò)直觀的方式指導(dǎo)用戶快速開始分析。為得到可靠、可復(fù)制的結(jié)果，所以系統(tǒng)設(shè)置存儲(chǔ)在一個(gè)配置文件中，可自動(dòng)調(diào)用。

選擇 清潔度專家 軟件

輕松快速地區(qū)分反光 (金屬) 顆粒和非反光顆粒

自動(dòng)調(diào)焦和自動(dòng)檢測(cè)功能

互動(dòng)式過(guò)濾圖，在查看結(jié)果的過(guò)程中顯示動(dòng)態(tài)圖像的位置

軟件由編碼顯微鏡進(jìn)行校準(zhǔn)，因此自動(dòng)化分析準(zhǔn)確無(wú)誤

輕松生成報(bào)告，共享您的結(jié)果

清潔度分析流程

從兩大知名企業(yè)的強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合中受益

通過(guò)“來(lái)源單一”的“成套”清潔度分析解決方案優(yōu)化您的清潔度工作流程。

徠卡和 Pall 共同推出了獨(dú)特、完備的部件清潔度集成工作流程解決方案。從提取 (例如從部件上分離顆粒) 到使用合適的徠卡光學(xué)評(píng)估系統(tǒng)完成分析，PALL 提供全面的整套解決方案來(lái)裝備您的清潔度實(shí)驗(yàn)室。 

工作流程包括

來(lái)自 Pall 的清洗機(jī)和過(guò)濾器

來(lái)自徠卡的光學(xué)和化學(xué)分析解決方案 

由來(lái)自徠卡和 Pall 的應(yīng)用專家提出工作流程優(yōu)化建議