簡(jiǎn)要介紹

ZC2829A系列元件測(cè)試儀是一種精度高、測(cè)試范圍寬、6位測(cè)試分辨率的新型阻抗測(cè)量?jī)x器。最高達(dá)200kHz的測(cè)試頻率，以0.01Hz步進(jìn)任意編程、5mV-2V信號(hào)電平及直流內(nèi)置偏置電壓，可以滿足元件絕大部分低壓參數(shù)的測(cè)量要求，可廣泛應(yīng)用于諸如電感器、電容器等元器件的性能分析。儀器所提供的HANDLER（選件）、GPIB（選件）、LAN、RS232C、USB HOST接口為儀器使用于元件自動(dòng)分選系統(tǒng)、與計(jì)算機(jī)通訊及測(cè)試過(guò)程記錄提供了充分的條件。

技術(shù)指標(biāo)

• 基本測(cè)量準(zhǔn)確度：LCRZ：0.05%

• 校準(zhǔn)條件：預(yù)熱時(shí)間：≥30分鐘，環(huán)境溫度：23±5℃，信號(hào)電壓：0.3Vrms-1Vrms

清“0”：OPEN、SHORT后，測(cè)試電纜長(zhǎng)度：0m

• 測(cè)試信號(hào)頻率：范圍：20Hz-200kHz       準(zhǔn)確度：0.01%

• 信號(hào)源輸出阻抗：10Ω、30Ω、50Ω、100Ω可選，±2%@1kHz

• 測(cè)試信號(hào)電平：正常：5mV-2Vrms            分辨率：1mV

恒定電平：10mV-1Vrms       10%×設(shè)定電壓+2mV

• DC偏置電流源（選件）：0-±100mA

• LCR測(cè)試參數(shù)：Z、Y、C、L、X、B、R、G、D、Q、θ、DCR、Turn-Ratio、Phase、LK

• DCR顯示范圍：0.00001Ω-99.9999MΩ

• LCR參數(shù)顯示范圍：Z、R、X      0.00001Ω～99.9999MΩ

Y、G、B      0.00001us～99.9999s

C            0.00001pF～9.99999F

L            0.00001uH～99.9999kH

D            0.00001～9.99999

Q            0.00001～99999.9

θ(DEG)       -179.999～179.999

θ(RAD)       -3.14159～3.14159

Δ%           -999.999%～999.999%

• 測(cè)量速度（≥1kHz）：快速：32ms、中速：90ms、慢速：650ms

• 等效電路：串聯(lián)，并聯(lián)

• 量程方式：自動(dòng)，保持

• 觸發(fā)方式：內(nèi)部，手動(dòng)，外部，總線

• 平均次數(shù)：1-255

• 校準(zhǔn)功能：開(kāi)路，短路，負(fù)載，掃頻/點(diǎn)頻清零

• 內(nèi)部直流偏置源：0V、1.5V、2V、準(zhǔn)確度：1%

• 比較器功能：10檔分選，BIN1-BIN9,NG,AUX；檔計(jì)數(shù)功能；PASS、FAIL前面板LED直接顯示

• 存儲(chǔ)器：20組LCRZ儀器設(shè)定文件記憶；40組掃描設(shè)定文件記憶

• 接口：控制接口：HANDLER(選件)

             通訊接口：LAN、GPIB(選件)、RS232C

             存儲(chǔ)器接口：USB HOST （U盤存儲(chǔ)接口）