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Zwick-萬能納米壓痕試驗機- ZHN

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Zwick-萬能納米壓痕試驗機- ZHN 核心參數(shù)
準確度 符合國際相關(guān)標準 分辨率 取決于壓痕測量系統(tǒng)分辨率
測量重復(fù)性 符合國際相關(guān)標準

產(chǎn)品特點

wan能納米試驗機ZHN具備常規(guī)硬度計難以企及的試驗力和位移分辨率,從而保證了能夠針對薄表層或微小面積的綜合機械特性的測試能力。這包括壓痕硬度、壓痕模量和馬氏硬度(儀器化壓痕硬度測量)。

詳細介紹

 

難以想象的尺寸

wan能納米試驗機ZHN具備常規(guī)硬度計難以企及的試驗力和位移分辨率,從而保證了能夠針對薄表層或微小面積的綜合機械特性的測試能力。這包括壓痕硬度、壓痕模量和ISO 14577馬氏硬度(儀器化壓痕硬度測量)。

image.png

主要優(yōu)勢和特點:

l  現(xiàn)代化的軟件、具有清晰的結(jié)構(gòu)設(shè)計

l  堅固的機架設(shè)計,壓頭軸向與上下移動軸向一致(無傾斜力矩)

高度模塊化來自于:

l  可更換的測量壓頭在軸向(20 N / 2 N / 0.2 N) 及橫向方向,加載條件的真實建模。

l  獨特的串聯(lián)光學(xué)系統(tǒng)(為了更合理的空間配置而研發(fā)),配備2個照相機;能結(jié)合物鏡擴展至4個不同的放大倍數(shù)

l  軟件結(jié)構(gòu)的特點有功能/應(yīng)用模塊,用于硬度和楊氏模量測試、劃痕測試和階梯振幅進行的周期壓痕測試

l  多種試樣架可供選擇,包括用于絕緣材料的試樣臺的壓頭---不直接接觸試樣的測量

在所有方向上都有足夠的空間,具有精確的步長和高分辨率:

l  X軸方向:100 mm

l  Y軸方向200 mm

l  Z軸方向:70 mm

l  新的隔絕罩設(shè)計,具有改進的隔熱和隔音效果

 

典型應(yīng)用:

l  軟質(zhì)材料(聚合物)和硬質(zhì)材料(金剛石類型圖層)的圖層研發(fā)

l  測定裂紋或塑料變形的臨界應(yīng)力

l  工具的硬質(zhì)材料圖層、防劃痕保護

l  玻璃的保護圖層

l  涂料及溶膠-凝膠圖層

l  在橫截面上自動測量位于一條線上的壓痕硬度

l  傳感器和MEMS/NEMS的納米圖層

l  生物材料

l  合金的基體效應(yīng)(繪圖-面掃功能)

l  陶瓷材料和復(fù)合材料

l  離子注入表面

l  微電子的損傷分析

l  測定表面承載能力(ELASTICA)

 

一個提供多功能和靈活性的測試概念

ZHNwan能納米試驗機使用了ASMEC公司的久經(jīng)考驗的納米硬度計技術(shù)。在第一次的研發(fā)中,兩個測量壓頭被放置于軸向(納米硬度計原理)和橫向(劃痕試驗機原理)方向中,在納米分辨率尺度上完全相互獨立。于是第一次能測得橫向試驗力-行程曲線,可能獲取與過去相比更多的材料參數(shù)(參見典型應(yīng)用)。包括試樣的橫向剛度和純彈性橫向變形數(shù)據(jù)。

雙立柱機架以其單主螺桿和精確的導(dǎo)向為特點,保證了更堅固的機架設(shè)計,同時壓頭軸向與上下移動方向完全一致,無傾斜力矩和正弦誤差。設(shè)備剛度高于106 N/m,無需修正并大大簡化了對測試區(qū)域的校正流程。

不同于其它生產(chǎn)商的儀器,兩個測量壓頭都能進行拉伸和壓縮測試,疊加振幅使硬度測試升級成周期疲勞測試。

image.png

 

ZHN測量壓頭的兩個ZG:

軸向試驗力原理:

image.png

l  由于雙彈簧系統(tǒng),在正常方向上運動和在橫向方向上具有高剛度

l  堅固的結(jié)構(gòu)

l  沒有感應(yīng)傳感器在過載時停止,因此沒有損壞

l  在不離開測量范圍的情況下,軸可承受更重的重量任何類型的客戶專用探頭都可以輕松使用

 

橫向試驗力原理:

image.png

l  試樣在垂直定位的板簧中間夾緊試樣

l  如果在法線方向上存在足夠的剛度,則可以在橫向方向上容易地移動而不會垂直改變樣本位置

l  力生成與力測量分離

l  橫向力的應(yīng)用和測量,無需橫向移動

 

模塊化的光學(xué)設(shè)計

您能在納米硬度計上增加可用的測試方法數(shù)量,并結(jié)合我們不同的光學(xué)系統(tǒng),例如與AFM整合。

image.png

 

光學(xué)設(shè)備優(yōu)勢和特點:

l  50x物鏡-試樣表面反射光直接通過分光鏡和鏡片進入兩個照相機中

從光學(xué)圖片中能獲得:

l  定義的測量點測量點與點之間的距離和周長

l  只需一個按鍵即可查看現(xiàn)有的測量點

l  可控制的光線和圖像參數(shù)

l  顯示標尺及記錄時間

l  非機械式的目鏡切換保證了高定位精度和放大倍數(shù)的快速切換

l  即使是低反射的材料表面例如玻璃也能獲得高質(zhì)量的圖像

l  自動對焦功能可設(shè)定一個準確的對焦高度從而獲取清晰的圖像

l  自動生成測量點的圖像(程序化)

l  對于高低不同的試樣表面可由焦距不同下獲取的圖像拼接成一張完整的圖像

 

將原子力顯微鏡AFMZHN納米硬度計連接

 

納米壓痕試驗機和原子力顯微鏡(AFM)能整合于一個獨立系統(tǒng)中,進行全面、()自動分析。先用原子力顯微鏡測定表面粗糙度;這幫助定義最小的壓入深度。再將試樣固定于納米試驗機上,對相同位置進行力學(xué)分析。zui后再將試樣放置于原子力顯微鏡下研究材料的應(yīng)力誘發(fā)性能例如“堆積”和“沉陷¨或壓痕附近的裂紋現(xiàn)象這些效益可能會影響硬度和楊氏模的數(shù)值。

 

將試樣高溫爐安裝在ZHN

試樣高溫爐能安裝于ZHN上,可加熱試樣至400°C,代替標準試樣夾具。它使用自然冷卻,無需提供冷卻水。它能夠測量橫向試驗力和劃痕測試,無需橫向試驗力貢獻。

 

 

技術(shù)參數(shù):

鏡頭參數(shù):


基礎(chǔ)版本配備 50x 鏡頭

基礎(chǔ)版本配備5x鏡頭

訂貨號

1011428

1011428

尺寸(高xx深)

790 x 640 x 390mm

790 x 640 x 390mm

重量

大約105kg

大約105kg

電壓

230v

230v

光學(xué)設(shè)備



配備兩個攝像機的串聯(lián)顯微鏡

1280 x 1024 像素, USB 3.0 接口

1280 x 1024 像素, USB 3.0 接口

鏡頭

50 x [1]*

5 x[4]*

工作行程

0.38/10.6 mm[2]*

10.6mm

照明

綠色LED燈,最大功率1W

綠色LED燈,最大功率1W

光學(xué)放大至23英寸
  (
照相機1/照相機2)

1000 x/3350 x

100 x/335 x

視場(照相機1/照相機2)

324 x 259 μm/96 x 77 μm

3.2 x 2.6 mm / 0.97 x 0.7 mm

像素分辨率小/
 
(照相機1/照相機2)

254 nm/76 nm

2540 nm/760 nm

載物臺系統(tǒng)

X-軸行程

200 mm, 步級 50 nm

200 mm, 步級 50 nm

Y-軸行程

100 mm, 步級 50 nm

100 mm, 步級 50 nm

Z-軸行程

70 mm, 步級 10 nm

70 mm, 步級 10 nm

最大試樣尺寸(X x Y x Z)

80 x 80 x 60

80 x 80 x 60mm

最大劃痕長度

25mm[3]*

25mm[5]*

1.        包含在標準配送的貨物中

2.        長行程鏡頭,參見光學(xué)版本

3.        取決于試樣表面光滑度

4.        手動調(diào)節(jié)的5x鏡頭,參見光學(xué)版本

5.       取決于試樣表面光滑度

 

NFU (軸向試驗力單元) 測量壓頭技術(shù)參數(shù):

訂貨號

1016415

1016416

最大試驗力(Fmax),法向[1]*

約為2N

約為0.2N

數(shù)字分辨率,試驗力測量

0.02μN

0.002μN

背景噪音,試驗力測量

2μN [2]

0.2μN [2]*

最大行程

大約200μm[1]*

大約200μm[1]*

數(shù)字分辨率,行程測量

0.002nm

0.002nm

背景噪音,行程測量(8 Hz時為1 σ )

0.3nm

0.3nm

背景噪音,行程測量(閉環(huán)模式下為1 σ )

0.2nm

0.2nm

動態(tài)模塊 [3]*



最大振蕩頻率

300Hz

300Hz

剛度評估的最大頻率

70Hz

25Hz

數(shù)據(jù)采集速率

40kHz

40kHz

最大力振幅

> 100mN

> 100mN

1.        壓縮和拉伸

2.        信噪比106

3.        僅與準靜態(tài)連續(xù)剛度模式連接

 

橫向試驗力測量壓頭(LFU)技術(shù)參數(shù):

訂貨號

1021148

最大試驗力(Fmax),橫向[1]

大約2N

數(shù)字分辨率,試驗力測量

0.02μN

背景噪音,試驗力測量

6μN

最大行程[1]

大約75μm

數(shù)字分辨率,行程測量

0.002nm

背景噪音,行程測量

0.5nm

1. 壓縮和拉伸

 


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