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激光干涉薄厚測(cè)量?jī)x

品牌：昊量/auniontech
型號(hào)： INTERFEROMETRICPROFILER
產(chǎn)地：歐洲德國(guó)
供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議

上海昊量光電設(shè)備有限公司更新時(shí)間：2025-04-27 13:46:07

銷(xiāo)售范圍售全國(guó)

入駐年限第10年

營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核

同類(lèi)產(chǎn)品

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詳細(xì)介紹

激光干涉薄厚測(cè)量?jī)x

所屬類(lèi)別： ? 光學(xué)/激光測(cè)量設(shè)備 ? 偏振態(tài)測(cè)量?jī)x
所屬品牌：韓國(guó)Nanobase公司

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Xper-IP激光干涉膜厚測(cè)量?jī)x

Xper-IP是基于Nanobase公司特有的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測(cè)量?jī)x，是一種非接觸式、無(wú)損的、精確且快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。Xper-IP可用于測(cè)量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度。

薄膜測(cè)厚儀，激光干涉儀，膜厚測(cè)量?jī)x，激光干涉薄膜測(cè)量系統(tǒng)

韓國(guó)Nanobase公司是一家專(zhuān)注于激光和光譜測(cè)量領(lǐng)域的高科技公司，旗下有多種產(chǎn)品，包括拉曼光譜成像系統(tǒng)，OCT光學(xué)相干斷層掃描系統(tǒng)，可調(diào)諧激光器和激光干涉薄厚測(cè)量?jī)x。

Xper-IP正是基于Nanobase特有的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測(cè)量?jī)x，是一種非接觸式、無(wú)損的、精確且快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。Xper-IP可用于測(cè)量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度，產(chǎn)品具有以下特點(diǎn)：

精度 ±0.2 %

重復(fù)準(zhǔn)度 ±0.003 %

超寬測(cè)量范圍 10 mm to 1 mm
人性化軟件，易于使用

性?xún)r(jià)比高

同時(shí)測(cè)量多層膜厚

結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，適用于實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)環(huán)境

參數(shù)

型號(hào)	Xper-ITP（激光干涉測(cè)厚）	Xper-ISP（激光干涉測(cè)表面形貌）
測(cè)量范圍	100-1000微米，200-2000微米，(或者定制波長(zhǎng)范圍，與光譜儀分辨率成反比)
準(zhǔn)確度	±0.2 %
重復(fù)性	單點(diǎn)：0.01% full range（<100nm）平均：0.003% full range（<30nm）
速度	激光：標(biāo)準(zhǔn)30pps，（最大100，000pps）
光源	激光：SLD(840nm)