-
-
-
適合電子半導(dǎo)體研究的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)
- 品牌：飛納電鏡
- 型號(hào)： AFM-SEM
- 產(chǎn)地：歐洲 荷蘭
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議
-
復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
更新時(shí)間：2025-03-24 09:55:33 -
銷售范圍售全國
入駐年限第7年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品飛納電鏡(23件)
立即掃碼咨詢
聯(lián)系方式：400-857-8882
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明在儀器網(wǎng)（m.yn180.com）上看到的!
掃 碼 分 享 -
為您推薦
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對(duì)樣品進(jìn)行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素、機(jī)械、電學(xué)、磁學(xué)
詳細(xì)介紹
適合電子半導(dǎo)體研究的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對(duì)樣品進(jìn)行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素、機(jī)械、電學(xué)、磁學(xué)）關(guān)聯(lián)分析。
· 設(shè)備掃描范圍（開環(huán)）：100μm×100μm×20μm
· 設(shè)備掃描范圍（閉環(huán)）：80μm×80μm×16μm
· 分辨率：0.2nm×0.2nm×0.04nm
· 樣品尺寸：21mm×11mm×8mm
· 樣品重量：100g
· 成像模式：表面形貌和粗糙度、CAFM、KPFM、FMM、PFM、EFM、F-z curves、I-V curves等
應(yīng)用案例：半導(dǎo)體材料-二硫化鉬（MoS2）
硫化鉬（MoS2）是一種 2D 層狀 TMDCs，適合作為地球上豐富的催化劑或先進(jìn)電子設(shè)備中的 2D 半導(dǎo)體。需要充分理解這些單層的制造條件，以確?？煽亢涂芍貜?fù)的屬性，如靈活性、獨(dú)特的電性或機(jī)械屬性。
我們展示了 AFM-in-SEM 解決方案，用于精確和復(fù)雜分析通過 CVD 在厚 SiO2/Si 上生長(zhǎng)的 MoS2 薄片。所有技術(shù)——SEM、AFM、EFM和相位成像——都在兩組不同制造條件下的樣本上同時(shí)測(cè)量。這種方法可以比較結(jié)果，以確定最佳的制造參數(shù)，以實(shí)現(xiàn)所需的樣本特性。使用 AFM 地形、SEM、EFM 和相位成像對(duì) MoS2 進(jìn)行復(fù)雜表征。
相關(guān)產(chǎn)品
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號(hào)