產品介紹
中科儀ZK650超聲波探傷儀是由中科儀品牌旗下公司自主研發(fā)生產的一款具有A掃描、B掃描、厚度B掃成像、TOFD端口以及全程連續(xù)動態(tài)實時記錄檢測回波數(shù)據(jù)便攜式超聲波探傷儀。能夠快速便捷、無損傷、精確地進行工件內部多種缺陷如裂紋、焊縫、氣孔、砂眼、夾雜、折疊等的檢測、定位、評估及診斷。

產品特點
A掃、B掃描成像，可連接掃查架使成像更精確；
TOGD端口，可升級為TOFD超聲；
全程連續(xù)動態(tài)實時記錄檢測回波數(shù)據(jù)及控制參數(shù)，存儲空間為32G；
超高亮陽光彩色7寸液晶顯示器；
旋鈕、按鍵操作兩種方式；

自動功能
自動校準：自動測試“探頭零點”、“K值”、“前沿”及“材料聲速”； 
自動顯示缺陷回波位置（深度d、水平p、距離s、波幅、當量dB、孔徑ф值）； 
自由切換三種標尺（深度d、水平p、距離s），滿足不同的探傷標準要求和探傷工程師的標尺使用習慣； 
自動增益：自動將波形調至屏高的80%，大大提高了探傷效率； 
自動錄制探傷過程并可以進行動態(tài)回放，錄制時間無限制；
自動Φ值計算：直探頭鍛件探傷，找準缺陷最高波自動換算孔徑Φ值；
自動DAC、AVG曲線自動生成取樣點不受限制，并可進行修正與補償，滿足任意探傷標準；
自動分析并顯示回放參數(shù)，自動生成探傷報告；

探傷功能
回波包絡：實時檢索并記錄缺陷最高波；
Φ值計算：直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算；
缺陷定位：實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S；
缺陷定量：實時顯示SL、EL、GL、RL定量值；
實時顯示孔狀缺陷Φ值；
缺陷定性：自動顯示缺陷大小，位置；

數(shù)據(jù)存儲
150個獨立探傷通道，可自由輸入任意行業(yè)探傷標準，方便存儲、調用；
3000幅探傷波形及數(shù)據(jù)，實現(xiàn)存儲、調出、打印、與計算機通訊傳輸；

主要技術參數(shù)
工作頻率：0.4～20MHz，分寬、窄帶兩檔；
增益范圍：0.0～110.0dB。步進值：0.1、1.0、2.0、6.0dB；
聲速范圍：300～99999m/s。連續(xù)可調；
檢測范圍： 0～10000mm(鋼縱波)。連續(xù)可調，最小步進值0.1mm；
檢波方式：正半波、負半波、全波、射頻；
脈沖移位：-45～8850mm；
探頭零值：0～99.9us；
脈沖重復頻率：25～1000Hz，自動、手動兩種調節(jié)方式；
屏幕保護：待機時可關閉屏幕或顯示字幕，省電并延長使用壽命；
發(fā)射電壓：25V～250V，步進值為25V；
工作方式：單、雙、穿透；
發(fā)射阻尼：400、100Ω；
垂直線性誤差：≤2.5% ；
水平線性誤差：≤0.1% ；
靈敏度余量：＞63dB(200Φ2平底孔)；
分辨率：＞42dB(使用5P14探頭)；
動態(tài)范圍：≥38dB；
抑   制：(0-99)% ，不影響線性與增益；
電   源：兩種供電方式：大容量鋰電池，無記憶效應、連續(xù)工作6小時以上；

成像技術參數(shù)
掃描延時：0～500us可控0.008us精度；
掃查定位：時基(內置實時時鐘-0.02秒精度)/真實位置(增量編碼器-0.5mm精度)；
成像模式：根據(jù)選擇的操作模式和相應的儀器設置顯示厚度B掃、B掃、TOFD成像；
直線掃查長度：50～2000mm自動滾屏；
記錄方法：完全原始數(shù)據(jù)記錄；
離線分析：恢復和回放掃查時記錄的A掃波形；
缺陷尺寸和輪廓；
厚度/幅度數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析；
記錄轉換到探傷報告

主機功能參數(shù)

標準配置

儀器主機  直探頭 斜探頭  探頭連接線纜  電池模塊  電源適配器（充電器） 隨機資料（產品說明書、保修卡、合格證） 移動存儲卡   儀器箱   掃描架(選配）TOFD端口（可升級）