產品介紹：
美國Rtec公司變焦式三維形貌儀是微納米級質量保證的光學三維粗糙度輪廓儀，其原理是采用目前世界領xian的自動變焦(Focus-Variation)技術。該技術將小景深的光學系統(tǒng)與垂直掃描wan美地結合在一起。
產品特點：

• 能夠同時測量表面形貌和粗糙度

• 能夠測量小半徑和小角度

• 能夠測量超過80°的斜面

• 可獲得真實的表面顏色信息

• 具有較高的測量速度

• 適用于苛刻環(huán)境下的檢測（有噪音或振動）

• 提供360°的形狀和粗糙度測量

• 不同表面表征的檢測（光滑表面或粗糙表面，樣品無需專門處理）

• SPIP專業(yè)數(shù)據(jù)分析軟件

產品參數(shù)：

• 垂直分辨率：10nm

• 水平光學分辨率：300nm

• 水平取樣距離：90nm

• 最大掃描高度：22mm

• 最大掃描面積：10000mm²

產品應用：
該儀器的應用領域覆蓋了薄膜/涂層、光學元器件、金屬、紙、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介質和半導體等幾乎所有的材料領域?？蓽y透明、半透明，高漫反射、低反射率，拋光、粗糙材料等(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)

• 曲率半徑

• 三維和二維成像

• 薄膜厚度

• 臺階高度

• 孔洞深度

• 表面形貌測量

• 粗糙度測量

• 表面紋理測量

• 面積和體積的測量與分析