經過多年的研究與進步，是德納米壓痕儀已經發(fā)展成為一種測量精確、用途靈活、界面友好的測試工具，廣泛應用于納米力學測試研究中。配有電磁驅動裝置的儀器系統(tǒng)，在力學和位移操作上，可以達到的動態(tài)測量范圍。

Nano Indenter G200是一套完整的納米力學顯微探針系統(tǒng)，其功能包括了納米壓痕、納米劃痕以及納米力學顯微鏡等。整個測試流程都是全自動的，這樣就提高了測試數(shù)據(jù)的可靠性和可重復性。

G200主要特性與技術指標

• 符合 ISO 14577 標準的測量結果

• 具有動態(tài)范圍的電磁驅動器

• 具有靈活性，以及針對可重復使用或全新應用的可升級能力

• 通過壓痕深度處的連續(xù)剛度測量，實現(xiàn)動態(tài)特性表征

• 實時控制、簡便的協(xié)議開發(fā)和漂移補償

優(yōu)勢

• 精確的測量結果，高度的再現(xiàn)性，完全符合IS014577國際標準，GB／T 22458-2008國家標準。

• 載荷和位移的動態(tài)測量范圍在同類產品中首屈yi指

• 利用連續(xù)剛度測量技術對壓入深度方向的動態(tài)力學性能進行精確的表征

應用

• 半導體材料

• 薄膜材料

• 微機電系統(tǒng)

• 硬質涂層

• DLC膜

• 生物材料

若需要大的樣品臺，請查看G300納米壓痕測試系統(tǒng)相關信息 。