日本電子株式會(huì)社2010年7月zuixin推出了冷場(chǎng)發(fā)射雙球差校正原子分辨和分析型透射電鏡。

傳統(tǒng)的冷場(chǎng)發(fā)射技術(shù)穩(wěn)定性差，亮度低，無法保證透射電鏡的使用需求。日本電子株式會(huì)社zuixin開發(fā)的冷場(chǎng)發(fā)射技術(shù)解決了這些問題，并把該技術(shù)加入到zuixin球差校正透射電鏡ARM200F序列里。使ARM200F在保證亞納米分辨率0.078nm的同時(shí)，能量分辨率提高到0.3eV，極大增強(qiáng)了原子級(jí)觀察和原子級(jí)分析能力。

在美國的第一臺(tái)搭載冷場(chǎng)發(fā)射電子槍的JEM-ARM200F將安裝在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美國的Brookheaven國家實(shí)驗(yàn)室；歐洲各國；日本的東京大學(xué)、東北大學(xué)、名古屋大學(xué)、九州大學(xué)等；ZG臺(tái)灣的清華大學(xué)也開始紛紛采購這一設(shè)備。