M?nch 4107是一個(gè)用于STEM，可以實(shí)現(xiàn)前所未有的信噪比和高的光譜分辨率陰極發(fā)光檢測(cè)器。它可以幫助研究人員實(shí)現(xiàn)對(duì)單個(gè)納米粒子，量子點(diǎn)或原子缺陷測(cè)量進(jìn)行超高分辨率的圖像和高光譜圖譜的檢測(cè)。

當(dāng)您使用STEM進(jìn)行陰極熒光光譜的探測(cè)，能夠短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到所需的信噪比是至關(guān)重要的，這樣您才可以在短時(shí)間內(nèi)測(cè)試更多的樣品。Attolight 采用創(chuàng)新技術(shù)，在與樣品毫米級(jí)的間距范圍內(nèi)，實(shí)現(xiàn)了大面積區(qū)域?qū)捔Ⅲw角高效率收集光子，而且僅僅只需利用STEM上的一個(gè)擴(kuò)展孔。

Attolight M?nch 4107 強(qiáng)大而高效。首先，反射鏡經(jīng)過精心設(shè)計(jì)，獲得前所未有的曲率半徑和小型化水平；它可以適應(yīng)在市場(chǎng)上大多數(shù)校正的STEM設(shè)備，同時(shí)保持足夠的剛度和3個(gè)自由度，允許完成亞毫米級(jí)的調(diào)整。其次，M?nch 4107 直接收集樣品的陰極發(fā)光并耦合到光纖內(nèi)，保證信號(hào)到達(dá)光譜儀的強(qiáng)度。zui后，一個(gè)超快EMCCD相機(jī)測(cè)量信號(hào)并實(shí)現(xiàn)高的光譜分辨率，高光譜掃描能在幾秒鐘內(nèi)完成。數(shù)據(jù)可以直接通過其他技術(shù)(EELS, EDS)的軟件采集且并行顯示。

M?nch 4107并非插件。這是一個(gè)從事電子顯微鏡和光學(xué)和光譜學(xué)多年的專業(yè)知識(shí)公司提供的解決方案。Attolight將用于陰極熒光SEM分析系統(tǒng)研發(fā)中的設(shè)計(jì)、制造技術(shù)推廣到STEM設(shè)備。

M?nch 4107 包含3自由度快速校準(zhǔn)熒光收集反射鏡，光纖耦合高分辨率光譜儀，用于快速高光譜采集的scientific級(jí)高速相機(jī)，以及具有掃描模塊STEM桿。