P-17 Stylus Profiler

  P-17支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。

產(chǎn)品描述

P-17是臺(tái)式探針輪廓儀，是多年的表面量測經(jīng)驗(yàn)的結(jié)晶。支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。

該系統(tǒng)結(jié)合了UltraLite傳感器、恒力控制和超平掃描平臺(tái)，因而具備出色的測量穩(wěn)定性。 通過點(diǎn)擊式平臺(tái)控制、頂視和側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)以及帶光學(xué)變焦的分辨率相機(jī)等功能，程序設(shè)置簡便快速。 P-17具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調(diào)平和分析算法，可以支持2D或3D測量。 并通過圖案識(shí)別、排序和特征檢測實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測量。

主要功能

•       臺(tái)階高度：幾納米至1000μm

•       微力恒力控制：0.03至50mg

•       樣品全直徑掃描，無需圖像拼接

•       視頻：500萬像素分辨率彩色攝像機(jī)

•       圓弧校正：消除由于探針的弧形運(yùn)動(dòng)引起的誤差

•       軟件：簡單易用的軟件界面

•       生產(chǎn)能力：通過測序、圖案識(shí)別和SECS/GEM實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化

主要應(yīng)用

•       臺(tái)階高度：2D和3D臺(tái)階高度

•       紋理：2D和3D粗糙度和波紋度

•       形狀：2D和3D翹曲和形狀

•       應(yīng)力：2D和3D薄膜應(yīng)力

•       缺陷復(fù)檢：2D和3D缺陷表面形貌

工業(yè)應(yīng)用

•       大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所

•       半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體

•       LED：發(fā)光二極管

•       太陽能

•       MEMS：微機(jī)電系統(tǒng)

•       數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

•       汽車

•       醫(yī)療設(shè)備

•       還有更多，請(qǐng)與我們聯(lián)系以滿足您的要求

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