高溫四探針測試儀

        ?高溫四探針測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。

高溫四探針測試儀

   高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。

       雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度,也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學性能研究等用途。

        采用自主開發(fā)先進的電子護系統(tǒng)，設備的安全性；選用進口熱電偶保定溫度的采集有效值、采用先進的的SPWM 電子升壓技術，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備高精度電壓、電流傳感器以保證試驗數(shù)據(jù)的有效性。 搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置，符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。高jing準度的輸出與測量規(guī)格，保障檢測結果的品質(zhì)，適用于新材料數(shù)據(jù)的檢測。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、導電功能薄膜材料、半導體材料，也可做為科研院所新材料的耐電弧性材料的性能測試。針對高溫四探針測試儀做了多項安全設計，測試過程中有過電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全；資料保存機制：當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數(shù)所新開啟動后可恢復原有試驗數(shù)據(jù)。                                                                                

強大的硬件系統(tǒng)-穩(wěn)定可靠，廣泛應用

華測高溫四探針測試儀，經(jīng)過嚴酷的實踐驗證，穩(wěn)定可靠，目前已經(jīng)廣泛應用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門

系統(tǒng)特點

█  多功能真空加熱爐，一體爐膛設計、可實現(xiàn)、高溫、真空、氣氛環(huán)境下進行測試
█  采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提高測試精度， 

█  可以測量半導體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率；

█  可實現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T、R-t等測量功能;

█  進口溫度傳感器、PID自動溫度控制，使測量溫度更jing準；

█  儀器可自動計算試樣的電阻率pv; 

█  10寸進口觸摸屏設計，一體化設計機械結構，更加穩(wěn)定、可靠；

█  程控電子升壓技術，紋波更低、TVS防護系統(tǒng)，保證儀器安全性；

█  99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；

█  huace pro 強大的控制分析軟件。

經(jīng)典四探針排列結構

應用領域

█ 多晶硅材料

█ 石墨烯材料

█ 石墨功能材料

█ 半導體材料 

█ 導電功能薄膜材料
█ 鍺類功能材料

█ 導電玻璃（ito）材料
█ 柔性透明導電薄膜
█ 其它導電材料等

強大的數(shù)據(jù)處理軟件