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賽默飛世爾 電子顯微鏡軟件 Auto Slice 和 View 4.0 軟件
- 品牌：賽默飛世爾
- 型號(hào)： Auto Slice / View 4.0
- 產(chǎn)地：美洲 美國(guó)
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議
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賽默飛電子顯微鏡
更新時(shí)間：2025-04-27 16:29:01 -
銷售范圍售全國(guó)
入駐年限第8年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品冷凍電鏡 (Cryo-EM)(15件)
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為您推薦
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 具有 EDS 和 EBSD 功能的連續(xù)切片 3D 成像軟件。
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹：
Auto Slice and View Software for serial section electron microscopy
Thermo Scientific Auto Slice and View 4 (AS&V4) 軟件可自動(dòng)采集高分辨率 3D 圖像和分析圖，如 EBSD（電子背散射衍射）或 EDS（能量分散 X 射線光譜）。AS&V4 軟件通過(guò)使用聚焦離子束 (FIB) 減薄樣品的連續(xù)截面（切片），然后成像和/或繪圖每個(gè)切片來(lái)采集數(shù)據(jù)。
由于許多樣品的高價(jià)值和獨(dú)特性，從每個(gè)切片收集盡可能多的信息很重要。ASV&4 軟件允許您為每個(gè)切片采集多種成像和分析模式，包括由多個(gè) SEM 和 FIB 探測(cè)器生成的材料和通道襯度等信息。此外，元素信息可以通過(guò) EDS 收集，晶粒取向/應(yīng)變紋理分析可以通過(guò) EBSD 繪圖提供。
AS&V4 軟件用戶界面
主要特點(diǎn)
直觀、易用的 UI
精簡(jiǎn)的工作流程、減薄配方、集成的自動(dòng)功能。
數(shù)字式傾斜移位補(bǔ)償
提高收集效率和準(zhǔn)確性。
實(shí)時(shí)編輯功能
遇到相位/微觀結(jié)構(gòu)變化時(shí)根據(jù)需要調(diào)整參數(shù)。
集成式成像
將 SEM 和 FIB 成像、EBSD 和 EDS 繪圖集成到一個(gè)軟件包中。
有關(guān)每個(gè)切片的信息
獲取有關(guān)每個(gè)切片的所有信息（成像、分析、電流、電壓、傾斜等）。
高度靈活和可靠的采集
高度靈活和可靠的采集，并且切割位置精確、可重復(fù)。
高速和高通量
具有多位點(diǎn)功能的高速和高通量。
技術(shù)資料
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號(hào)