基于成熟的NanoWizard技術，NanoWizard Sense+可在空氣和液體中對從單分子、活細胞和組織到聚合物和納米材料的樣品進行高性能的測量。

由于其模塊化和靈活的設計，它可以很容易地升級為一個完整的NanoWizard? 4 XP系統，并具有特定的應用組件和附加功能。

NanoWizard系列以其廣泛的可選配件、模式和功能而聞 名，為您的所有應用提供最 高的靈活性。

樣品兼容： 可以通過特殊選配來實現大的標準樣品體積（?140×18mm3）的測量，如電動定位，用于施加機械負荷于樣品的StrechingStage，用于較高樣品的Headup臺（最 高14cm），以及用于高NA直立光學的BioMAT?的穿梭臺。

溫度控制：高溫和低溫選項（例如，獨特的CryoStage：-120°C至220°C），有或沒有灌注或氣體控制。

開放訪問： 實驗設計的最 大通用性，例如，在AFM上同時使用微吸管或電探針與樣品接觸。

電學測試： 導電AFM、KPM、EFM、MFM、STM、壓電力顯微鏡、帶溫度控制的電化學和光學儀器

機械測量： 優(yōu)化力成像、接觸共振成像、納米操縱、納米光刻和納米壓痕。涵蓋從單分子力譜學到粘彈性力學的先進力譜。

完善的光學集成： NanoWizard AFMs與光學具備優(yōu)異的整合能力。由于其獨特的針尖掃描設計，該系統可以與先進的光學系統相結合，與標準的聚光鏡和反射顯微鏡同時使用，甚至可以穿過薄的蓋玻片，并在所有主要的倒置光學顯微鏡上使用。

成像模式

·        帶有橫向力顯微鏡（LFM）的接觸模式

·        具有Phase Imaging?的輕敲模式?

力學測量

·        靜態(tài)和動態(tài)力譜

·        高級力學成像

可選模式

·        新：峰值力輕敲

·        高次諧波成像

·        新：接觸共振AFM

·        導電AFM

·        開爾文探針顯微鏡

·        磁力顯微鏡與靜電力顯微鏡

·        掃描隧道顯微鏡

·        電學譜模式

·        壓電響應顯微鏡

·        具有溫度控制和光學顯微鏡的電化學

·        納米印刷

·        納米操作

·        納米壓痕

·        掃描熱AFM

·        新：來自Cytosurge的FluidFM?解決方案

·        ExperimentPlanner用于設計特定的測量工作流程

·        RampDesigner?，用于自定義Clamp和Ramp實驗

·        遠程實驗控制的ExperimentControl功能

·        新：DirectOverlay 2用于AFM和光學顯微鏡聯用