我們最大的硅漂移探測器(SDD)幫助提供可靠的非金屬材料測量和分析——性能優(yōu)越。在數(shù)秒內(nèi)獲得高效點檢測結(jié)果,或進行較長時間分析以獲得精確到ppm級的實驗室級結(jié)果。非常適用于環(huán)境和RoHS合規(guī)篩查,以及地質(zhì)勘探和其他領(lǐng)域。
斯派克xSORT NonAlloy應用于XRF RoHS合規(guī)檢測時,操作者不需要切換分析方法,也不需要使用氦氣沖洗或真空系統(tǒng),即可對各種不同基體類型的樣品分析得到準確結(jié)果。作為RoHS合規(guī)檢測設備,它能將結(jié)果與儲存的限值進行比較,并自動智能的做出確定超限、合格或者是存疑的判定,指導客戶做出準確判定。
針對更復雜的基體,如在環(huán)境地質(zhì)類樣品分析中,SPECTRO xSORT無需進行復雜的樣品前處理,即可對相應元素取得極低的檢出限。