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美國Hinds 各向異性測量系統(tǒng) 2-MGEM 橢圓計
- 品牌:美國Hinds
- 型號: 2-MGEM
- 產(chǎn)地:美洲 美國
- 供應商報價:面議
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北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
更新時間:2024-11-18 10:40:55
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銷售范圍售全國
入駐年限第6年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品光學材料測試(12件)
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產(chǎn)品特點
- Hinds Instruments 公司的2-MGEM橢圓儀是—種用于測量米勒矩陣樣本的正常入射偏振反射顯微鏡。它可以用來評估RTISO核燃料熱解碳層的光學各向異性(OPTAF)。該系統(tǒng)是根絕Dr.G.e.Jellison Jr等人在在論文中提出的“使用雙調(diào)制器廣義橢圓測微顯微鏡(2-MGME)的垂直入射廣義橢圓儀。該橢圓儀是一個重大的突破,光學各向異性測量技術(shù)更快、更準確、收集更多的數(shù)據(jù)。
詳細介紹
產(chǎn)品介紹:
Hinds lnstruments 公司的2-MGEM橢圓儀是一種用于側(cè)星米勒矩陣樣本的正常入射偏振反射顯微鏡。它可以用來評估RTSO核然料熱解碳層的光學各向異性(OPTAF)。該系統(tǒng)是根據(jù)D.G.eJelison J等人在在論文中提出的“使用雙調(diào)制器廣義橢圓測微顯微鏡(2-MGME)的垂直入射廣義橢圓儀。該橢圓儀是一個重大的突破,光學各向異性測量技術(shù)更快、收集更多的數(shù)據(jù)。該系統(tǒng)是圍繞兩個Hinds lnstruments系列]光彈性調(diào)制器(PEMs)建立.Hinds lnstruments公司是基于PEM偏振調(diào)制原理的科研和工業(yè)儀器和技術(shù)的開發(fā)商。PEM被廣泛應用于高靈敏度光學測量設備的研究和開發(fā)應用。2-MGEM橢圓儀測量光束偏振狀態(tài)的變化,這些光偏振束態(tài)是由TRISO燃料穎粒的各層反射而來的。該系統(tǒng)采用高精度定位平臺,測量點大小為5 pum,在被測星的每個燃料顆粒上收集數(shù)千個點。通過自動化軟件計算并報告了各個采祥點的線性衰減、線性延遲和反射強度。然后用這些參數(shù)計算每個熱解炭層(IPyC和OPyC)的OPTAF測定。
Hinds Instruments 2-MGEM橢圓儀由四個主要部件組成:
掃描模塊
主電機外殼光源
計算機系統(tǒng)
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