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日本JEOL電子探針顯微分析儀 JXA-iHP100

品牌：日本電子
型號： JXA-iHP100
產(chǎn)地：亞洲日本
供應(yīng)商報價：面議

深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司更新時間：2025-05-06 11:28:39

銷售范圍售全國

入駐年限第7年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品日本電子 JEOL 掃描電鏡(35件)

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日本JEOL電子探針顯微分析儀 JXA-iHP100 核心參數(shù)

加速電壓	詳見資料	放大倍數(shù)	詳見資料
分辨率	詳見資料	抽真空時間	詳見資料
真空度	詳見資料

產(chǎn)品特點

日本JEOL電子探針顯微分析儀JXA-iHP100 ，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。

詳細(xì)介紹

JXA-iHP100 電子探針顯微分析儀

可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。

產(chǎn)品規(guī)格：

檢測元素范圍	WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～U
X射線檢測范圍	WDS檢測的波長范圍: 0.087～9.3nm, EDS EDS檢測的能量范圍: 20keV
分光譜儀數(shù)量	WDS: 1～5道可選、EDS: 1臺
最大樣品尺寸	100mm × 100mm × 50mm（H）
加速電壓	0～30kV（以0.1 kV為步長）
束流電流范圍	10-12 ～ 10-5 A
束流電流穩(wěn)定度	5%/h, ±0.3%/12h（W）
二次電子分辨率	6nm（W）, 5nm（LaB6）*2 （W.D. 11mm, 30kV）
掃描倍率	×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm）
掃描圖像分辨率	最大 5,120× 3,840
彩色顯示器	EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024 SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024
光學(xué)顯微鏡
分辨率	～1um
焦深	1um
真空系統(tǒng)	機(jī)械泵、分子泵、離子泵 *2
真空度	樣品室: 優(yōu)于8.0 x 10-4Pa, 電子槍: 優(yōu)于9.0 x 10-5Pa

產(chǎn)品特點：

· 可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。

· 日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下一代能完全滿足多種需求的強(qiáng) 力分析工具之一。

· EPMA快速啟動

· 點擊任何一點，就能開始預(yù)設(shè)的EDS定性、定量分析或WDS分析。