光學(xué)視角檢測(cè)儀—近紅外光源測(cè)量

低成本和緊湊的3D成像技術(shù)在人臉識(shí)別、機(jī)器視覺或激光雷達(dá)等各種應(yīng)用領(lǐng)域的巨大發(fā)展，對(duì)近紅外光源的表征提出了新的要求。在任何情況下，為了獲得精確的三維圖像，必須對(duì)其所有角度孔徑范圍內(nèi)的光源發(fā)射特性進(jìn)行精確表征和快速測(cè)量。

光學(xué)視角測(cè)試儀VCProbe-NIR-STG是為近紅外中發(fā)光的DUT分析而優(yōu)化的。 光學(xué)視角測(cè)試儀VCProbe-NIR-STG的設(shè)計(jì)是為了精確測(cè)量泛光照明器件、立體成像、結(jié)構(gòu)光照明器件的特性。  

光學(xué)視角測(cè)試儀VCProbe-NIR-STG是測(cè)量小孔徑近紅外源的理想工具，并為近紅外源如LED和激光器提供了一個(gè)有效的測(cè)量解決方案。

該系統(tǒng)可以在±70°視角錐內(nèi)獲得完整的地圖，具有良好的角度分辨率，工作距離為4mm，允許非接觸式測(cè)量。

推薦用于2.5 mm初始光瞳發(fā)射器。

DXY +/- 1mm的重復(fù)誤差優(yōu)于1%的位置，便于在線定位。

光學(xué)視角檢測(cè)儀VCProbe-NIR-STG校準(zhǔn)波長(zhǎng)為940 nm，可用于研發(fā)和批量生產(chǎn)/質(zhì)檢應(yīng)用，實(shí)現(xiàn)高速和精確的測(cè)量。

光學(xué)視角測(cè)試儀VCProbe-NIR-DSD是專門為精確測(cè)量近紅外源的小孔徑而設(shè)計(jì)的。該系統(tǒng)可以測(cè)量激光雷達(dá)、閃光激光雷達(dá)、激光二極管和VCSEL等各種光源。

該系統(tǒng)具有非接觸式測(cè)量，在一次測(cè)量中，產(chǎn)生±32°的視角，提供了顯著的0.05°的角度分辨率。
這是一個(gè)為單個(gè)VCSEL優(yōu)化的系統(tǒng)，工作距離為40mm。光學(xué)視角檢測(cè)儀VCProbe-NIR-DSD允許高速和精確的測(cè)量應(yīng)用研發(fā)以及批量生產(chǎn)/質(zhì)檢。

?

光學(xué)視角測(cè)試儀型號(hào)規(guī)格：