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原位薄膜應(yīng)力測量儀
- 品牌：深圳科時(shí)達(dá)
- 型號： 11
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議
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深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
更新時(shí)間：2025-05-21 06:41:49 -
銷售范圍售全國
入駐年限第4年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品日本Microphase 原位薄膜應(yīng)力測量儀(1件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- 采用非接觸激光MOS技術(shù)；不但可以精確的對樣品表面應(yīng)力分布進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，而且還可以進(jìn)行樣品表面二維應(yīng)力、曲率成像分析；客戶可自行定義選擇使用任意一個(gè)或者一組激光點(diǎn)進(jìn)行測量；并且這種設(shè)計(jì)始終保證所有陣列的激光光點(diǎn)始終在同一頻率運(yùn)動或掃描，從而有效的避免了外界振動對測試結(jié)果的影響；同時(shí)大大提高了測試的分辨率；適合各種材質(zhì)和厚度薄膜應(yīng)力分析。
詳細(xì)介紹
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號