FS-2000植物冠層分析儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

冠層圖像分析儀用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過專用分析軟件，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。利用魚眼鏡頭成像測(cè)量植物冠層數(shù)據(jù)，只操作一次即可，簡(jiǎn)化了傳統(tǒng)測(cè)量方法要一天定點(diǎn)多次測(cè)量的繁復(fù)工作，而且利用圖像法測(cè)量冠層可以主動(dòng)避開不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層空隙部分，也可以躲開不符合測(cè)量計(jì)算的障礙物。

測(cè)量參數(shù)

葉面積指數(shù)

葉片平均傾角

散射輻射透過率                      

不同太陽高度角下的直射輻射透過率

不同太陽高度角下的消光系數(shù)

葉面積密度的方位分布

用途與適用范圍

可測(cè)算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等，可用于農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測(cè)量和分析可用于不同植物群體結(jié)構(gòu)的比較；可對(duì)農(nóng)田作物群體生長(zhǎng)過程進(jìn)行動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)適用于生態(tài)學(xué)野外植物群體動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)的研究與教學(xué)；

也適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、植物群體對(duì)比與發(fā)展的研究與教學(xué)。

原理與方法 

冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙率的測(cè)定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下， 冠層圖象分析儀采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測(cè)量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中最精確和最省力、省時(shí)、快捷方便的方法。 

功能特點(diǎn)

非破壞性地測(cè)定冠層結(jié)構(gòu)

可以測(cè)量冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)

手持式萬向接頭自動(dòng)水平調(diào)整探頭，無需三角架

隨身攜帶的筆記本計(jì)算機(jī)可以幫助你正確選點(diǎn)取樣，即時(shí)決定圖像的取舍

由外接鋰電池組提供電源便于觀測(cè)和長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量，尤其適合完成野外繁重的觀測(cè)任務(wù)

圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域(天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū))。對(duì) 不同方向的冠層進(jìn)行區(qū)域性分析時(shí)，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠層部分(如缺株、邊行問題等)。對(duì)不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件，通過手動(dòng)調(diào)節(jié)閾值，可以更精確的測(cè)量出葉面積指數(shù)等參數(shù)。

FS-2000植物冠層分析儀技術(shù)參數(shù)

鏡頭角度：150°（或180°）

分辨率：768×494pix

天頂角： 0°～75°

PAR感應(yīng)范圍：感應(yīng)光譜400nm～ 700nm  測(cè)量范圍0～2000μmol/㎡?S

分析軟件：植物冠層分析系統(tǒng)

顯示和內(nèi)存：決定于筆記本電腦的選擇。

電 源：鋰電池組

傳輸接口：USB

工作溫度：0～55℃