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Ekspla SFG 表面和頻光譜分析系統(tǒng)
- 品牌:立陶宛Ekspla
- 型號: SFG
- 產(chǎn)地:歐洲 立陶宛
- 供應(yīng)商報價:面議
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北京歐蘭科技發(fā)展有限公司
更新時間:2022-03-04 17:31:39
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照
- 同類產(chǎn)品圖像數(shù)據(jù)采集分析軟件-DaVis(24件)
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詳細(xì)介紹
儀器簡介:
SFG系統(tǒng)是進(jìn)行表面和接觸面研究的強(qiáng)有力而通用的工具
應(yīng)用
聚合物分子結(jié)構(gòu), 聚合物混合表面與深層接觸面
電化電池的固體/液體表面分子組織研究
晶體表面催化反應(yīng)的分子研究
液體表面的分子定向研究,特別是水表面
金屬單層的自聚合現(xiàn)象研究
... 還有您的個性化課題。
SFG 和頻光譜測量系統(tǒng)
和頻光譜測量系統(tǒng) (SFG)是一個二階非線性光學(xué)測量過程,用于在接觸面產(chǎn)生分子振動光譜。
SFG,一種三束光波混頻過程。通過將紅外光,可見光在樣品上(在時間和空間)上重合產(chǎn)生合頻信號(wSF = wIR + wVIS)
由于其表面特異性,SFG信號只能來源于表面分子或原子. 其特點(diǎn)是表面分子的靈敏性和特異性
幾乎在任何可以接觸光的表面都可以應(yīng)用SFG這一無破壞性的光學(xué)技術(shù)。測量可以在各種環(huán)境,包括真空和大壓力條件下進(jìn)行。技術(shù)參數(shù):
總體性能
工作波長:2.3–10μm(4300–1000cm-1)*
光譜分辨率:< 6 cm-1
檢波靈敏度:~10 photons/shot
數(shù)據(jù)采集頻率:10 Hz
*) 可選擇使用 16 μm (625 cm-1)
可見光束(VIS beam):
波長:532 nm
線寬:< 2 cm-1
脈沖能量:~ 1 mJ @532 nm
脈沖持續(xù)時間:20 – 30 ps
偏振
線性; 可選擇;
偏振度>1:100
紅外光束(IR beam)
調(diào)諧范圍:2.3–10 μm(4300–1000 cm-1)*
線寬:< 6 cm-1
偏振:線性; 可選; 1:100 純度
脈沖能量:200-20μJ
SFG光束:
波長范圍:432 – 505 nm (VIS 光束=532 nm)
主要特點(diǎn):性能特點(diǎn):
優(yōu)良的激光源穩(wěn)定性,S/N率高
測量范圍大: 625 cm-1
光譜分辨率高于 6 cm-1
性價比高
完全 PC 控制波長掃描
可升級到SHG倍頻光譜測量系統(tǒng)
在線分析研究
單層分子研究
端基定向
表面反應(yīng)與催化
表面原子團(tuán)完全定向
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