
X射線光電子能譜儀
是一種表面分析技術(shù),主要用來表征材料表面元素及其化學(xué)狀態(tài)。基本原理是使用X-射線與樣品表面相互作用,利用光電效應(yīng),激發(fā)樣品表面發(fā)射光電子,利用能量分析器,測量光電子動能(K.E),根據(jù)B.E=hv-K.E-W.F,進而得到激發(fā)電子的結(jié)合能(B.E)。展開更多選項
X射線光電子能譜儀產(chǎn)品列表
- X射線光電子能譜儀
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